SunVTSTM 7.0 Patch Set 5 bietet folgende Verbesserungen:
Infrastrukturelle Verbesserungen:
Möglichkeit, gerätespezifische Optionen in einem Test anzugeben
Erzeugung generischer oder hostspezifischer Sitzungen für Testzwecke
Schleifenfunktion für einen bestimmten Testdurchlauf
Unterstützung von Terminal-Benutzerschnittstellen für die Erzeugung oder das Laden von generischen und hostspezifischen Sitzungen
Verbesserungen für CPU-Diagnosezwecke
Der Systemtest, systest, führt im Falle eines Ausfalls eine Isolierung auf Prozessorebene aus.
Der CPU-Test, cputest, ist ein Test, der mehrere Prozesse umfasst. Anhand einer einzelnen binären Prüfziffer können alle im System enthaltenen CPUs gleichzeitig getestet werden.
Verbesserungen für Speicherdiagnosezwecke
physmem-basierter ramtest, mit der Option, die Adressenlänge in KB, MB und GB zu lesen
Verbesserter l3-Puffer-Test mit zusätzlichem Speicherplatz und Ablauftest-Algorithmen
Verbesserungen für E/A-Diagnosezwecke
Ein neuer hlgraphicstest-Test zum Testen von Grafikkarten
Benutzer können beim Netzwerktest die Option "back-to-back loopback" (Ende-zu-Ende-Prüfschleife) für die nxge -Schnittstelle aktivieren.
Cddvdtest wurde verbessert, um verschiedene Laufwerksgeschwindigkeiten zu unterstützen
Disktest wurde verbessert, um folgende Funktionen zu unterstützen:
Optimierung der Leistung von USB-Speichergeräten
Prüfung der Leistung von Datenträgern
Kein Schreibtest auf Root-Datenträger
Prüfung von Halbleiterbauelementen mittels Prüfebene und Wear-Leveling-Mechanismus
Unterstützung des Lese-und-Schreib-Puffer-Cache-Tests