/opt/SUNWvts/bin/afbtest 標準引数 -o dev=デバイス名, S=サブテスト番号, F=サブテストのループ回数,B=テストのループ回数,P=テストパターン
表 2-3 afbtest のコマンド行構文
引数 |
説明 |
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dev=デバイス名 |
/dev/fbs; を基準に、テストするデバイス名の相対パス名を指定します。デフォルトは afb0 です。 |
S=サブテスト番号 |
実行するサブテスト名のテスト番号を指定します。以下から選択してください。サブテスト番号を加算することによって、複数のサブテストを実行することができます。たとえば n=0x3 では、テスト 1 とテスト 2 の両方が実行されます。n=0x180 では、テスト 0x080 と 0x0100 の両方が実行されます。先行ゼロは必要ありません。
n-0x00001 3DRAM n-0x00002 3DRAM Logic n-0x00004 RAMDAC n-0x00008 Micro code n-0x00010 Rendering Pipeline n-0x00020 FastFill/Vertical Scroll n-0x00040 Pixel Processor n-0x00080 AFB Dots n-0x00100 AFB Lines n-0x00200 AFB Triangles n-0x00400 Lighting n-0x00800 Texture Processor n-0x02000 AFB Mix Test n-0x04000 Picking n-0x08000 Arbitration n-0x10000 Stereo n-0x40000 UART |
F=サブテストのループ回数 |
各サブテストを繰り返す回数を指定します。デフォルトは 1 回です。 |
B=テストのループ回数 |
テストループを繰り返す回数を指定します。この回数繰り返されると、テストはパスしたことになります。デフォルトは 1 回です。 |
P=テストパターン |
テストパターン番号を指定します。デフォルトは、ランダムパターンを示す r です。0(0x0000000)、3(0x3333333)、5(0x5555555)、9(0x9999999) を指定することもできます。 |
64 ビットのテストは、sparcv9 サブディレクトリに格納されています (/opt/SUNWvts/bin/sparcv9/テスト名)。このディレクトリにテストが存在しない場合は、そのテストは、32 ビットのテストとしてだけ実行することができます。詳細は、「32 ビットテストと 64 ビットテスト」を参照してください。