SunVTS 4.1 テストリファレンスマニュアル

ffbtest のコマンド行構文

/opt/SUNWvts/bin/ffbtest 標準引数 -o dev=デバイス, S=サブテスト番号, F=サブテストループ,B=テストループ回数,P=テストパターン

表 22-3 ffbtest のコマンド行構文

引数 

説明 

dev=デバイス名

テストするデバイスの相対パス名 (/dev/fbs を指し示す) を指定します。デフォルトは ffb0 です。

S=サブテスト番号

実行するサブテストのテスト番号を指定します。以下のサブテストから選択します。サブテスト番号を加算すると、複数のサブテストを実行することができます。たとえば、n=0x3 はテスト 1 とテスト 2 の両方を実行し、n=0x180 は、テスト 0x080 とテスト 0x0100 の両方を実行します。先行ゼロを付ける必要はありません。

  • n=0x00001 3DRAM

  • n=0x00002 3DRAM ロジック

  • n=0x00004 RAMDAC

  • n=0x00008 描画パイプライン

  • n=0x00010 高速充填・垂直スクロール

  • n=0x00020 ピクセルプロセッサ

  • n=0x00040 ピッキング

  • n=0x00080 調停

  • n=0x00100 立体

 

サブテスト番号の論理和をとると、複数のテストを選択することができます。たとえば、n = 0x00009 は、3DRAM テストと描画パイプラインテストを選択します。16 進数の前には 0x を付ける必要がありますが、10 進数で指定することもできます。

F=サブテストループ回数

各サブテストを繰り返す回数を指定します。デフォルトは 1 です。 

B=テストループ回数

合格に必要なテストループの繰り返し回数を指定します。デフォルトは 1 です。 

P=テストパターン

テストパターン番号を指定します。デフォルトは、ランダムパターンを意味する r です。

0 (0x0000000)3 (0x3333333)5 (0x5555555)9 (0x9999999) を選択することができます。


注 -

64 ビットのテストは、sparcv9 サブディレクトリに格納されています (/opt/SUNWvts/bin/sparcv9/テスト名)。このディレクトリにテストが存在しない場合は、そのテストは、32 ビットのテストとしてだけ実行することができます。詳細は、「32 ビットテストと 64 ビットテスト」を参照してください。