SunVTS 4.2 テストリファレンスマニュアル

m64test のコマンド行構文

/opt/SUNWvts/bin/m64test 標準引数 -o dev=デバイス名,S=サブテスト番号, F=サブテストのループ回数,B=テストのループ回数,L=disable,P=テストパターン

表 35-3 m64test のコマンド行構文

引数 

説明 

dev=デバイス名

テストするデバイスの相対パス名 (/dev/fbs を指し示す) を指定します。デフォルトは m640 です。

S=サブテスト番号

実行するサブテストのテスト番号を指定します。以下から選択してください。サブテスト番号を加算することによって、複数のサブテストを実行することができます。たとえば、n=0x00003 では、テスト 00001 とテスト 00002 の両方が実行されます。 

n=0x00005 では、テスト 0x00001 と 0x000004 の両方が実行されます。先行ゼロは必要ありません。 

  • n - 0x00001 VRAM

  • n - 0x00002 RAMDAC

  • n - 0x00004 アクセラレータポートテスト (描画パイプライン)

サブテスト番号の論理和をとることによって、複数のテストを選択することができます。 

たとえば、n = 0x00005 は、VRAM テストと描画パイプラインテストを意味します。 

16 進数の前には 0x を付ける必要があります。10 進数で指定することもできます。 

F=サブテストのループ回数

各サブテストを繰り返す回数を指定します。デフォルトは 1 回です。 

B=テストのループ回数

テストループを繰り返す回数を指定します。この回数繰り返されると、テストはパスしたことになります。デフォルトは 1 回です。 

L=disable

フレームバッファーロックを無効にします。M64 がコンソールでない場合、あるいはサーバーがテスト中の M64 上で動作していない場合は、ロックを無効にしてください。 

P=テストパターン

テストパターン番号を指定します。デフォルトは、ランダムパターンを示す r です。0 (0x0000000)3 (0x3333333)5 (0x5555555)9 (0x9999999) を指定することもできます。


注 -

64 ビットのテストは、sparcv9 サブディレクトリに格納されています (/opt/SUNWvts/bin/sparcv9/テスト名)。このディレクトリにテストが存在しない場合は、そのテストは、32 ビットのテストとしてだけ実行することができます。詳細は、「32 ビットテストと 64 ビットテスト」を参照してください。