ffbtest のコマンド行構文
/opt/SUNWvts/bin/ffbtest 標準引数 -o dev=デバイス名, S=サブテスト番号,
F=サブテストループ,B=テストループ回数,P=テストパターン
表 24-3
ffbtest のコマンド行構文
引数
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説明
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dev=デバイス名
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テストするデバイスの相対パス名 (/dev/fbs を指し示す) を指定します。デフォルトは ffb0 です。
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S=サブテスト番号
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実行するサブテストのテスト番号を指定します。以下のサブテストから選択します。サブテスト番号を加算すると、複数のサブテストを実行することができます。たとえば、n=0x3 はテスト 1 とテスト 2 の両方を実行し、n=0x180 は、テスト 0x080 とテスト 0x0100 の両方を実行します。先行ゼロを付ける必要はありません。
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n=0x00001 3DRAM
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n=0x00002 3DRAM ロジック
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n=0x00004 RAMDAC
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n=0x00008 描画パイプライン
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n=0x00010 高速充填・垂直スクロール
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n=0x00020 ピクセルプロセッサ
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n=0x00040 ピッキング
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n=0x00080 調停
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n=0x00100 立体
サブテスト番号の論理和をとると、複数のテストを選択することができます。たとえば、n = 0x00009 は、3DRAM テストと描画パイプラインテストを選択します。16 進数の前には 0x を付ける必要がありますが、10 進数で指定することもできます。
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F=サブテストループ回数
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各サブテストを繰り返す回数を指定します。デフォルトは 1 です。
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B=テストループ回数
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合格に必要なテストループの繰り返し回数を指定します。デフォルトは 1 です。
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P=テストパターン
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テストパターン番号を指定します。デフォルトは、ランダムパターンを意味する r です。
0 (0x0000000)、3 (0x3333333)、5 (0x5555555)、
9 (0x9999999) を選択することができます。
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注 - 64 ビットのテストは、sparcv9 サブディレクトリに格納されています (/opt/SUNWvts/bin/sparcv9/テスト名)。このディレクトリにテストが存在しない場合は、そのテストは、32 ビットのテストとしてだけ実行することができます。詳細は、「32 ビットテストと 64 ビットテスト」を参照してください。
注 -
ffbtest が返すエラーは特定できません(障害が発生した構成要素を特定することはできません)。エラーが発生した場合は、FFB 全体が現場交換可能ユニット(FRU)となります。