test

SunVTS 4.3 テストリファレンスマニュアル

sctest のコマンド行構文

/opt/SUNWvts/bin/sctest 標準引数 -o dev=a|b|i2cscmN,Mode=ReadWrite|ReadOnly,OCFBasedTests=Enable|Disable, CardRemovalTest=Enable|Disable

表 47-4 sctest のコマンド行構文

引数 

説明 

dev=a|b|i2cscmN

デバイスの種類を指定します。a または b は、ttya または ttyb です。N は 0、1、2 などです。

Mode= Enable|Disable

UserInfoCard Service サブテストで Write モードを有効または無効にします。 

OCFBasedTests= Enable|Disable

次のサブテストをすべて有効または無効にします: Card Presence Detect、Card Lock/Unlock、Insertion/Removal、PinCardService、Simple Authentication、および UserInfoCardService。 

CardRemovalTest=Enable|Disable

Insertion/Removal サブテストを有効または無効にします。 

注 -

64 ビットのテストは、sparcv9 サブディレクトリに格納されています (/opt/SUNWvts/bin/sparcv9/テスト名)。このディレクトリにテストが存在しない場合は、そのテストは、32 ビットのテストとしてだけ実行することができます。詳細は、「32 ビットテストと 64 ビットテスト」を参照してください。