test

SunVTS 4.3 テストリファレンスマニュアル

sentest のコマンド行構文

/opt/SUNWvts/bin/sentest 標準引数 -o dev=インタフェース,test=タイプ, enc=部品

表 48-3 sentest のコマンド行構文

引数 

説明 

dev= インタフェース

SEN カード装置名を指定します。デフォルトは ses0 です。

test= タイプ

行うテストの種類を指定します。Norm (通常のテスト)、Inter (対話型テスト) のいずれかで、デフォルトは Norm です。

enc= 部品

格納装置のどの状態を調べるかを指定します。デフォルトは ALL です。enalm、dp、di、pm、fan、ovt、ALL のいずれかから選択することができます。

注 -

64 ビットのテストは、sparcv9 サブディレクトリに格納されています (/opt/SUNWvts/bin/sparcv9/テスト名)。このディレクトリにテストが存在しない場合は、そのテストは、32 ビットのテストとしてだけ実行することができます。詳細は、「32 ビットテストと 64 ビットテスト」を参照してください。