SunVTS 4.3 テストリファレンスマニュアル

sutest のコマンド行構文

/opt/SUNWvts/bin/sutest 標準引数 -o dev=デバイス名, porta=第1ポート名,T=テストタイプ,L=ループバックタイプ,D=データパターン, AB=非同期時ボーレート,BS=非同期時書き込みサイズ,F=フロー制御

表 56-3 sutest のコマンド行構文

引数 

説明 

dev=デバイス名

テストするシリアルポートを指定します。デフォルト値はないため、以下のような形式で必ず指定する必要があります。 

  • su0

porta=ポート名

シリアルデバイスペアの最初のデバイス名を指定します。デフォルトは a です。

T=テストタイプ

実行するテストのタイプとして以下のいずれかを指定します。 

  • a= ポート a でテストを実行

  • b= ポート b でテストを実行

  • a_b= ポート a、b の順にテストを実行

  • a_b_concurrent= ポート a と b で同時にテストを実行

  • a_to_b= ポート a からポート b にテストを実行

L=ループバックタイプ

ポートに接続するループバックコネクタのタイプとして、以下のいずれかを指定します。 

  • Null_modem_a_to_b

  • Plug_a_to_a__b_to_b

D=データパターン

転送するデータパターンを指定します。指定可能な値は以下のいずれかです。 

  • Random

  • Sequential

  • Alphanumeric

  • 0x00-0xFF

AB=ボーレート

非同期モードでのボーレートを指定します (デフォルト =9600)。有効な値は、110 から 460800 の範囲です。

 

注: 一部のプラットフォームでは、38400 または 76800 までのボーレートしかサポートされていません。153600 を超えるボーレートを使用するには、シリアル回線ドライバを RS-232 モードではなく、RS-423 モードに設定する必要があります。 

BS=書き込みサイズ

非同期モードでの書き込みブロックサイズを 1 から 10000 バイトの範囲で指定します。 

F=フロー制御

非同期モードでのフロー制御方法として、以下のいずれかを指定します。 

  • Hardware (RTS/CTS)

  • Software (xon/xoff)

  • None


注 -

64 ビットのテストは、sparcv9 サブディレクトリに格納されています (/opt/SUNWvts/bin/sparcv9/ テスト名)。このディレクトリにテストが存在しない場合は、32 ビットのテストとしてだけ実行することができます。詳細は、「32 ビットテストと 64 ビットテスト」 を参照してください。