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SunVTS 4.5 テストリファレンスマニュアル

sunlink のコマンド行構文

/opt/SUNWvts/bin/sunlink 標準引数 -o dev=デバイス名,p=ポート番号, P=データパターン,brate=速度,I,C=クロックソース

表 55-3 sunlink のコマンド行構文

引数 

説明 

dev=デバイス名

テストするデバイスを指定します。 

HDLC プロトコルは hih0 を使用します。

p=ポート番号

テストするポート番号を指定します。 

P=データパターン

以下のいずれかのデータパターンを指定します。 

  • c―文字 (0x55)

  • i―増分

  • d―減分

  • r―ランダム (デフォルト)

brate=速度

ビットレートの転送速度 (9600 bps 〜 2.048 Mbps) を指定します。 

I

HSI/S (外部) に対して内部ループバックを有効にします。 

C=クロックソース

クロックソースとして以下のいずれかを指定します。 

  • B―オンボードクロックソース

  • E―外部クロックソース

HSI カードをテストするための一般的なコマンド行構文を以下に示します。


# /opt/SUNWvts/bin/sunlink -o dev=hih0,P=0+1+2+3,brate=100000

このコマンドを入力すると、ポート 0、1、2、3 の内部ループバックをテストします。ポート間の内部ループバックはテストしません。

注 -

64 ビットのテストは、sparcv9 サブディレクトリに格納されています (/opt/SUNWvts/bin/sparcv9/テスト名)。このディレクトリにテストが存在しない場合は、そのテストは、32 ビットのテストとしてだけ実行することができます。詳細は、「32 ビットテストと 64 ビットテスト」を参照してください。