SunVTS 4.6 テストリファレンスマニュアル

gfbtest のコマンド行構文

/opt/SUNWvts/bin/sparcv9/gfbtest 標準引数 -o dev=デバイス名, S=サブテスト番号,F=サブテストのループ回数,B=テストのループ回数, P=テストパターン

表 28-3 gfbtest のコマンド行構文

引数 

説明 

dev=デバイス名

デバイス名には、テスト対象のデバイスを /dev/fbs を基準とした相対パス名で指定します。

デフォルト値は gfb0 です。

S=サブテスト番号

サブテスト番号には、実行するサブテストのテスト番号を指定します。サブテストには、次に挙げる種類があります。サブテスト番号を加算することによって、複数のサブテストを実行することもできます。たとえば n=0x3 と指定すると、テスト 1 とテスト 2 の両方が実行されます。また、n=0x180 と指定した場合には、テスト 0x080 とテスト 0x0100 の両方が実行されます。先頭のゼロは省略してもかまいません。

  • n - 0x00001 Video Memory 3DRAM

  • n - 0x00002 3DRAM Logic

  • n - 0x00004 X Chip

  • n - 0x00008 Cafe

  • n - 0x00010 Texture Memory SDRAM

  • n - 0x00020 Rendering Pipeline

  • n - 0x00040 Texturing Pipeline

  • n - 0x00080 Fragment Processor

  • n - 0x00100 Lighting

  • n - 0x00200 Super Sampling

  • n - 0x00400 Mesh Buffer

  • n - 0x00800 Clip Trap

  • n - 0x01000 Context Switching

  • n - 0x02000 Mixed Primitives

  • n - 0x04000 Picking

  • n - 0x08000 Stereo

F=サブテストのループ回数

各サブテストの繰り返し回数を指定します。 

デフォルトは 1 回です。 

B=テストのループ回数

この引数で指定した回数だけ繰り返されると、テストはパスしたことになります。 

デフォルトは 1 回です。 

P=テストパターン

テストパターン番号を指定します。デフォルトは r (ランダムパターン) です。

このほか、0 (0x0000000)、3 (0x3333333)、5 (0x5555555)、または 9 (0x9999999) も指定できます。


注 -

同じテストをループさせる場合には、詳細モードは無効になります。複数のパラメタはコンマで区切って指定します。(例: gfbtest -o dev=gfb1,S=0x9,B=2)



注 -

64 ビットのテストは、sparcv9 サブディレクトリに格納されています (/opt/SUNWvts/bin/sparcv9/テスト名)。このディレクトリにテストが存在しない場合は、そのテストは、32 ビットのテストとしてだけ実行することができます。詳細は、「32 ビットテストと 64 ビットテスト」を参照してください。



注 -

gfbtest が返すエラーは特定できません(障害が発生した構成要素を特定することはできません)。エラーが発生した場合は、GFB 全体が現場交換可能ユニット(FRU)となります。