Sun Studio 12:性能分析器

数据显示,右窗格

右窗格包含“摘要”标签、“事件”标签、“争用详细信息”标签、“死锁详细信息”标签和“泄漏”标签。缺省情况下显示“摘要”标签。

“摘要”标签

“摘要”标签同时以值和百分比的形式显示所选函数或装入对象的所有记录的度量,此外还显示所选函数或装入对象的信息。无论何时在任何标签中选择了新的函数或装入对象,都将更新“摘要”标签。

“事件”标签

“事件”标签显示在“时间线”标签中选择的事件的详细数据,包括事件类型、叶函数、LWP ID、线程 ID 和 CPU ID。数据面板的下方显示调用栈,栈中的每个函数都使用彩色编码。单击调用栈中的某个函数将选中该函数。

“时间线”标签中选中某个样本时,“事件”标签将显示样本编号、样本的开始时间和结束时间、微状态及在每个微状态中所花费的时间和彩色编码。

“泄漏”标签

“泄漏”标签显示“泄漏列表”标签中所选的泄漏或分配的详细数据。在数据面板的下方,“泄漏”标签显示检测到所选的泄漏或分配时的调用栈。单击调用栈中的函数将选中该函数。

“争用详细信息”标签

“争用详细信息”标签显示“争用”标签中所选的数据争用的详细数据。有关更多信息,请参见《Sun Studio 12:线程分析器用户指南》

“死锁详细信息”标签

“死锁详细信息”标签显示“死锁”标签中所选的死锁的详细数据。有关更多信息,请参见《Sun Studio 12:线程分析器用户指南》