/opt/SUNWvts/bin/ifbtest 標準引数 -o dev=デバイス名, fbmem=E(nable)|D(isable),texmem=E|D,dlmem=E|D,geomeng=E|D, rasterization=E|D,pixelproc=E|D,subtest_repeat=回数, test_repeat=回数
表 27-3 ifbtest のコマンド行構文
引数 |
説明 |
---|---|
dev=デバイス名 |
デバイス名は、テスト対象のデバイスを /dev/fbs を基準とした相対パス名で指定します。デフォルトはありません。 |
fbmem=E|D |
フレームバッファーメモリーのテストを有効または無効にします。 |
texmem=E|D |
テクスチャーメモリーのテストを有効または無効にします。 |
dlmem=E|D |
表示一覧メモリーのテストを有効または無効にします。 |
geomeng=E|D |
ジオメトリエンジンのテストを有効または無効にします。 |
rasterization=E|D |
ラスター化方式のテストを有効または無効にします。 |
pixelproc=E|D |
ピクセル処理のテストを有効または無効にします。 |
subtest_repeat=回数 |
各サブテストの繰返し回数を定義します。デフォルトは 1 です。 |
test_repeat=回数 |
転送前にテストループを繰り返す回数を定義します。デフォルトは 1 です。 |
64 ビットのテストは、sparcv9 サブディレクトリに格納されています (/opt/SUNWvts/bin/sparcv9/ テスト名)。このディレクトリにテストが存在しない場合は、32 ビットのテストとしてだけ実行することができます。詳細は、「32 ビットテストと 64 ビットテスト」を参照してください。