SunVTS 4.1 テストリファレンスマニュアル

vmemtest のオプション

ダイアログボックスを表示するには、システムマップにあるテスト名を右クリックし、Test Parameter Options を選択します。システムマップにこのテスト名が表示されない場合は、グループツリーを展開すると表示される場合があります。展開しても表示されない場合は、このテストに合ったデバイスがシステムに含まれていない可能性があります。詳細は、『SunVTS 4.1 ユーザーマニュアル』を参照してください。

図 55-1 vmemtest のテストパラメタオプションダイアログボックス

Graphic

表 55-1 vmemtest のオプション

オプション 

説明 

vmemtest の構成

Configuration フィールドに示されるメモリー量は、swap -s コマンドが返す、使用中のスワップ空間と未使用スワップ空間の合計と同じです。この合計値は、確認された仮想メモリー量を、KB 未満を切り上げて示します。

Mode 

vmemtest には、2 つのモードがあります。

  • 通常 (Regular) モードでは、テストされるメモリー量は、物理メモリーの大きさによって制限されます。

  • ページ (Page) モードは、割り当てられた仮想メモリーを一度に 1 ページずつテストします。各ページは、一時ファイル /tmp/vmem.page に割り当てられ、データが書き込まれた後に、記憶装置にページアウトされます。次にページインされた後に、読み取られて比較されます。

 

ストレステストオプションが選択されると、valloc で割り当てられた全システムメモリーを確保し、その先頭から最後まで書き込みを行います。書き込みを終えると、1 ロングワードずつ読み取って、元のパターンと比較されます。

Reserve 

Reserve オプションは、vmemtest のテスト対象から除外 (予約) するメモリー量を指定します。予約された空間は、SunVTS テストと並行して動作している他のプロセスに使用されます。Reserve オプションを使用することで、デフォルトに追加してメモリーを予約することができます。このオプションは、特定のインスタンスだけに適用されます。このインスタンスによるテストに割り当てられたメモリーよりも大きいメモリーを予約しようとすると、テストは失敗します。

Test Amount 

デフォルトとは異なる仮想メモリー量を指定して、テストできます。使用できるメモリー量よりも大きな値を指定した場合は、vmemtest およびその他の実行中のテストは失敗することがあります。

Contiguous Errors 

連続するメモリー位置で発生するメモリーエラーの許容数を指定し、このエラー数に達した時点でテストを停止するように設定します。 

Predefined Pattern 

以下の中から、テストに使用するパターンを 1 つ選択します。 

  • Address- テストするメモリー位置の仮想アドレスを使用します。

  • walk_1-0x80000000 〜 0x00000001 で始まるパターンの内の 1 つを使用します。

  • walk_0-0x7fff7fff 〜 0x7fff7ffe で始まるパターンの内の 1 つを使用します。

  • 0x00000000- すべて 1 および 0 からなるパターンを使用します。

  • 0x5aa55aa5- 0x5aa55aa5 および 0xa55aa55a のパターンを使用します。

  • 0xdb6db6db- 0xdb6db6db および 0x24924924 のパターンを使用します。

  • UserDefined- User Defined Pattern 領域で指定したパターンを使用します (下記を参照)。

User Defined Pattern 

Predefined Pattern で UserDefined を選択した場合にのみ使用します。例えば 0x2a341234 のように、8 桁の 16 進数形式でパターンを指定します。

Instance 

実行する vmemtest テストのインスタンス数を指定します。