SunVTS 4.2 テストリファレンスマニュアル

vmemtest のコマンド行構文

/opt/SUNWvts/bin/vmemtest 標準引数 -o mode=数値, reserve=数値, amount=数値,bdinfo=数値r,cerr=数値,pp=パターン,up=16 進アドレス

表 60-3 vmemtest のコマンド行構文

引数 

説明 

mode=Page|Regular

vmemtest の実行モードを指定します。次のいずれかを選択します。

  • Page ― 書き込み・読み取りメモリーテストを、一度に 1 システムメモリーページずつ進めます。

  • Regularvalloc オプションを使用して、割り当てたメモリー全体を、一度に 1 ロングワードずつ読み取って比較します。

reserve=数値

デフォルトのメモリー量に追加して予約する仮想メモリーの MB 量を指定します。 

amount=数値

デフォルトのメモリー量の代わりに、テストするメモリーの MB 量を指定します。 

bdinfo=数値

システムに搭載されているすべての CPU/メモリボードのボード番号情報を指定します。たとえば、ボード 0 と 5 がメモリーボードの場合は、bdinfo=33 (2**5 + 2**0) と入力します。

cerro=数値

メモリーエラーが発生したときにダンプされる連続エラーの最大個数を指定します。 

pp=パターン

テストに使用するパターンを指定します。パターンは以下の中から選択できます。 

  • Address- テストするメモリー位置の仮想アドレスを使用します。

  • walk_1- 0x80000000 〜 0x00000001 から始まるパターンの内の 1 つを使用します。

  • walk_0- 0x7fff7fff 〜 0x7fff7ffe から始まるパターンの内の 1 つを使用します。

  • 0x00000000- すべて 1 および 0 からなるパターンを使用します

  • 0x5aa55aa5- 0x5aa55aa5 のパターンを使用します。

  • 0xdb6db6db- 0xdb6db6db のパターンを使用します。

  • Checkerboard- 0x55555555 および 0xaaaaaaaa のパターンを使用します。

  • UserDefined- User Defined Pattern 領域で指定したパターンを使用します (下記を参照)。

up=16 進アドレス

上記の pp 引数に UserDefined を設定した場合にのみ使用します。例えば 0x2a341234 のように、8 桁の 16 進数形式でパターンを指定します。


注 -

64 ビットのテストは、sparcv9 サブディレクトリに格納されています (/opt/SUNWvts/bin/sparcv9/テスト名)。このディレクトリにテストが存在しない場合は、そのテストは、32 ビットのテストとしてだけ実行することができます。詳細は、「32 ビットテストと 64 ビットテスト」を参照してください。