SunVTS 4.4 テストリファレンスマニュアル

第 16 章 ECP 1284 パラレルポートプリンタテスト (ecpptest)

ecpptest は、ecpp(7) IEEE 1284 パラレルプリンタポートデバイスの機能を検査します。

ecpp(7) は、排他使用デバイスです。1 つのアプリケーションだけがデバイスを使用することができます。

ecpptest はスケーラブルテストではありません。

ecpptest のハードウェア条件とソフトウェア条件

テストするシステムが ecpp(7) デバイスをサポートしている場合は、ecpp(7) ドライバは、オペレーティングシステムと共にインストールされます。プリンタサブテストを実行するには、プリンタポートにセントロニクス (Centronics) または ECP モードのプリンタを接続しておく必要があります。外部ループバックテストを実行するには、プリンタポートに受動ループバックコネクタを取り付けておく必要があります。


注 -

外部ループバックテストは、サン社内の製造工程で使用することを目的に設計されています。専用のループバックコネクタが必要であり、社外のユーザーが入手することはできません。


ecpptest のサブテスト

表 16-1 ecpptest のサブテスト

サブテスト 

説明 

内部テスト FIFO ループバック 

ecpp デバイスに対する DMA と PIO アクセスを検査します。ecpp デバイスの内部テスト FIFO を使用します。プリンタコネクタとループバックコネクタは必要ありません。このテストはいつでも実行することができます。

外部受動ループバック 

背面パネルにあるパラレルポートの入出力コネクタの接続を検査します。このテストには、受動ループバックコネクタ (パーツ番号: 270-2965-01) が必要です。デフォルトでは、このテストは無効であり、テストを行うには、自分で有効にする必要があります。 

 

注 - 外部ループバックテストは、サン社内の製造工程で使用することを目的に設計されています。専用のループバックコネクタが必要であり、社外のユーザーが入手することはできません。 

プリンタテスト 

パラレルポートのプリンタの動作を検査します。半ページ分の ASCII 文字データを出力します。出力モード (ECP、Centronicsなど) は、プリンタと ecpp ドライバの自動的なネゴシエーションによって決まります。現在のモードが変更されることはありません。データが正しく印刷されているかどうかは、ユーザーが確認します。デフォルトでは、このテストは無効であり、テストを行うには、自分で有効にする必要があります。

ecpptest のオプション

ダイアログボックスを表示するには、システムマップにあるテスト名を右クリックし、Test Parameter Options を選択します。システムマップにこのテスト名が表示されない場合は、グループツリーを展開すると表示される場合があります。展開しても表示されない場合は、このテストに合ったデバイスがシステムに含まれていない可能性があります。詳細は、『SunVTS 4.4 ユーザーマニュアル』を参照してください。

図 16-1 ecpptest のテストパラメタオプションダイアログボックス

Graphic

表 16-2 ecpptest のオプション

オプション 

説明 

External Loopback 

外部ループバックテストを有効または無効にします。このテストには、特殊なループバックプラグが必要です。 

Printer 

プリンタテストを有効または無効にします。このテストでは、パラレルポートにプリンタを接続しておく必要があります。 

Printer_data_type 

プリンタに ASCII テキストと PostScript データのどちらを送信するか選択します。このオプションは、プリンタテストを有効にした場合にのみ有効です。PostScript データを印刷するには、PostScript プリンタが接続されている必要があります。 

Printer_delay _seconds 

プリンタテスト間の遅延時間を指定します。連続した印刷によって給紙装置がすぐに空になることを防ぎます。このオプションは、プリンタテストを有効にした場合にのみ有効です。 

Internal_loop_during_delay 

プリンタ遅延時間中の内部テスト FIFO ループバックテストを有効にします。このオプションは、プリンタテストを有効にした場合にのみ有効です。 

ecpptest のテストモード

表 16-3 ecpptest のテストモード

テストモード 

サポート 

説明 

接続テスト 

○ 

ecpp(7) デバイスをオープン、クローズします。データ転送は行われません。デバイスが正常にオープン、クローズした場合は、テストは成功です。他のプロセスでビジーになっており、デバイスがオープンできなかった場合も、テストは成功になります。

機能テスト 

(オフライン) 

○ 

内部ループバックテストが行われます。オプションで、外部ループバックテストとプリンタテストを実行することができます。デバイスがビジーの場合は、テストは失敗です。 

ecpptest のコマンド行構文

/opt/SUNWvts/bin/ecpptest 標準引数 -o [dev=デバイス名] [ext_loop=Enable|Disable][printer=Enable|Disable][,data=ascii|postscript] [,delay=0-86400][,dloop=Enable|Disable]

表 16-4 ecpptest のコマンド行構文

引数 

説明 

dev=デバイス名

デバイス名を指定します。/dev/ecpp# の形式で指定してください。# は、デバイスのマイナー番号です。デフォルトは /dec/ecpp0 です。

ext_loop=Enable|Disable

有効の場合に外部ループバックテストを実行します。プリンタポートに外部ループバックプラグを接続してください。 

printer=Enable|Disable

有効の場合にプリンタテストを実行します。Centronics または ECP モードでパラレルポートプリンタを接続してください。 

data=ascii|postscript

プリンタに ASCII テキストと PostScript データのどちらを送信するかを選択します。PostScript データを印刷するには、PostScript プリンタが接続されている必要があります。 

delay=0-86400

プリンタテスト間の遅延時間を指定することができます。連続した印刷によって給紙装置がすぐに空になることを防ぎます。 

dloop=Enable|Disable

プリンタ遅延時間中の内部テスト FIFO ループバックテストを有効または無効にします。 


注 -

64 ビットのテストは、sparcv9 サブディレクトリに格納されています (/opt/SUNWvts/bin/sparcv9/テスト名)。このディレクトリにテストが存在しない場合は、そのテストは、32 ビットのテストとしてだけ実行することができます。詳細は、「32 ビットテストと 64 ビットテスト」を参照してください。