test

SunVTS 4.4 テストリファレンスマニュアル

gfxtest コマンド行の構文

/opt/SUNWvts/bin/gfxtest standard_arguments -o dev=デバイス名, mem=no_of_passes,ramdac=no_of_passes,accel=no_of_passes

表 28-4 gfxtest コマンド行の構文

引数 

説明 

dev=デバイス名

デバイス名は、テストするデバイスに関連付けられているパス名で、 /dev/fbs/gfxp0のように、/dev/fbs に使用されます。

mem=no_of_passes

ビデオメモリーサブテストの実行回数を指定します。デフォルト値は 1 です。 

ramdac=no_of_passes

RAMDAC サブテストの実行回数を指定します。デフォルト値は 1 です。 

accel=no_of_passes

速度サブテストの実行回数を指定します。デフォルト値は 1 です。 

注 -

64 ビットのテストは、sparcv9 サブディレクトリに格納されています (/opt/SUNWvts/bin/sparcv9/テスト名)。このディレクトリにテストが存在しない場合は、そのテストは、32 ビットのテストとしてだけ実行することができます。詳細は、「32 ビットテストと 64 ビットテスト」を参照してください。

注 -

gfxtest が返すエラーは特定できません(障害が発生した構成要素を特定することはできません)。エラーが発生した場合は、PGX32 フレームバッファーカード全体が現場交換可能ユニット(FRU)となります。