saiptest のコマンド行構文
/opt/SUNWvts/bin/saiptest 標準引数 -o dev=デバイス名, M=テストモード,
B=ボーレート,Size=文字サイズ,Stop=ストップビット数,
Parity=パリティ,F=フロー制御,Data=テストパターン,sp=シリアルポート,
tout=タイムアウト値
表 46-4
saiptest のコマンド行構文
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引数
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説明
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| dev=デバイス名 |
テストする PCI カードスロットの非同期シリアルポートを指定します。デフォルトのデバイスはないため、デバイス名としてボード (saip0 〜 16) または個々のポート (term/x000 〜 term/x007, x は a〜p の範囲) のいずれかを指定する必要があります。
ボードを指定する場合
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saip0 = 1 枚目のカードの 8 つの非同期シリアルポート
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saip1 = 2 枚目のカードの 8 つの非同期シリアルポート
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saip2 = 3 枚目のカードの 8 つの非同期シリアルポート
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saip3 = 4 枚目のカードの 8 つの非同期シリアルポート
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saip4 = 5 枚目のカードの 8 つの非同期シリアルポート
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saip5 = 6 枚目のカードの 8 つの非同期シリアルポート
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saip6 = 7 枚目のカードの 8 つの非同期シリアルポート
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saip7 = 8 枚目のカードの 8 つの非同期シリアルポート
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saip8 = 9 枚目のカードの 8 つの非同期シリアルポート
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saip9 = 10 枚目のカードの 8 つの非同期シリアルポート
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saip10 = 11 枚目のカードの 8 つの非同期シリアルポート
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saip11 = 12 枚目のカードの 8 つの非同期シリアルポート
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saip12 = 13 枚目のカードの 8 つの非同期シリアルポート
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saip13 = 14 枚目のカードの 8 つの非同期シリアルポート
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saip14 = 15 枚目のカードの 8 つの非同期シリアルポート
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saip15 = 16 枚目のカードの 8 つの非同期シリアルポート
ポートを指定する場合
/dev/term/x00m
x は a から p、m は PCI カードスロットの非同期シリアルポートを識別する 0 から 7 の数値です。
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| M=テストモード |
テストモードとして Internal、25_pin_loopback、Echo_TTY のいずれかを指定します。
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| B=ボーレート |
ボーレートとして 110、300、600、1200、2400、4800、9600、19200、38400 のいずれかを指定します。デフォルトは 9600 です。
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| Stop=ストップビット数 |
ストップビット数として、1 または 2 のいずれかを指定します。デフォルトは 1 です。
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| Size=文字サイズ |
文字サイズとして 5 から 8 の範囲の整数を指定します。
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| Parity=パリティ |
パリティとして none、odd、even のいずれかを指定します。デフォルトは none です。
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| F=フロー制御 |
フロー制御方法として xonoff、rtscts、both のいずれかを指定します。
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| Data=テストパターン |
テストパターンとして 0x55555555、0xAAAAAAAA、random のいずれかを指定します。
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| sp=シリアルポート |
term/a003 の形式で、テストする端末と非同期シリアルポート番号を指定します。
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tout=タイムアウト値
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テストが時間切れになるまでの秒数を指定します。デフォルト値は 120 秒です。
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注 - 64 ビットのテストは、sparcv9 サブディレクトリに格納されています (/opt/SUNWvts/bin/sparcv9/テスト名)。このディレクトリにテストが存在しない場合は、そのテストは、32 ビットのテストとしてだけ実行することができます。詳細は、「32 ビットテストと 64 ビットテスト」を参照してください。
注 - SunVTS 非同期シリアルインタフェースがエラーを検出すると、saiptest エラーメッセージが生成されます。VTS インタフェースに表示されるエラーの説明には、カード障害またはテスト失敗の原因として考えられる理由が示され、現場交換可能ユニット(FRU)が示され、可能であれば、推奨する対応を示されます。テストが行われる FRU は、非同期シリアルインタフェースカードとケーブルで接続されているパッチパネルです。
