m64test のコマンド行構文
/opt/SUNWvts/bin/m64test 標準引数 -o dev=デバイス名,S=サブテスト番号,
F=サブテストのループ回数,B=テストのループ回数,L=disable,P=テストパターン
表 36-3
m64test のコマンド行構文
引数
|
説明
|
dev=デバイス名
|
テストするデバイスの相対パス名 (/dev/fbs を指し示す) を指定します。デフォルトは m640 です。
|
S=サブテスト番号
|
実行するサブテストのテスト番号を指定します。以下から選択してください。サブテスト番号を加算することによって、複数のサブテストを実行することができます。たとえば、n=0x00003 では、テスト 00001 とテスト 00002 の両方が実行されます。
n=0x00005 では、テスト 0x00001 と 0x000004 の両方が実行されます。先行ゼロは必要ありません。
サブテスト番号の論理和をとることによって、複数のテストを選択することができます。
たとえば、n = 0x00005 は、VRAM テストと描画パイプラインテストを意味します。
16 進数の前には 0x を付ける必要があります。10 進数で指定することもできます。
|
F=サブテストのループ回数
|
各サブテストを繰り返す回数を指定します。デフォルトは 1 回です。
|
B=テストのループ回数
|
テストループを繰り返す回数を指定します。この回数繰り返されると、テストはパスしたことになります。デフォルトは 1 回です。
|
L=disable
|
フレームバッファーロックを無効にします。M64 がコンソールでない場合、あるいはサーバーがテスト中の M64 上で動作していない場合は、ロックを無効にしてください。
|
P=テストパターン
|
テストパターン番号を指定します。デフォルトは、ランダムパターンを示す r です。0
(0x0000000)、3 (0x3333333)、
5 (0x5555555)、9 (0x9999999) を指定することもできます。
|
注 - 64 ビットのテストは、sparcv9 サブディレクトリに格納されています (/opt/SUNWvts/bin/sparcv9/テスト名)。このディレクトリにテストが存在しない場合は、そのテストは、32 ビットのテストとしてだけ実行することができます。詳細は、「32 ビットテストと 64 ビットテスト」を参照してください。
注 -
m64test が返すエラーは特定できません(障害が発生した構成要素を特定することはできません)。エラーが発生した場合は、M64 ビデオボード全体が現場交換可能ユニット(FRU)となります。