gfbtest のコマンド行構文
/opt/SUNWvts/bin/sparcv9/gfbtest 標準引数 -o dev=デバイス名,
S=サブテスト番号,F=サブテストのループ回数,B=テストのループ回数,
P=テストパターン
表 28-3
gfbtest のコマンド行構文
引数
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説明
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dev=デバイス名
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デバイス名には、テスト対象のデバイスを /dev/fbs を基準とした相対パス名で指定します。
デフォルト値は gfb0 です。
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S=サブテスト番号
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サブテスト番号には、実行するサブテストのテスト番号を指定します。サブテストには、次に挙げる種類があります。サブテスト番号を加算することによって、複数のサブテストを実行することもできます。たとえば n=0x3 と指定すると、テスト 1 とテスト 2 の両方が実行されます。また、n=0x180 と指定した場合には、テスト 0x080 とテスト 0x0100 の両方が実行されます。先頭のゼロは省略してもかまいません。
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n - 0x00001
Video Memory 3DRAM
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n - 0x00002
3DRAM Logic
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n - 0x00004
X Chip
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n - 0x00008
Cafe
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n - 0x00010
Texture Memory SDRAM
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n - 0x00020
Rendering Pipeline
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n - 0x00040
Texturing Pipeline
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n - 0x00080
Fragment Processor
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n - 0x00100
Lighting
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n - 0x00200
Super Sampling
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n - 0x00400
Mesh Buffer
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n - 0x00800
Clip Trap
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n - 0x01000 Context
Switching
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n - 0x02000
Mixed Primitives
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n - 0x04000
Picking
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n - 0x08000
Stereo
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F=サブテストのループ回数
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各サブテストの繰り返し回数を指定します。
デフォルトは 1 回です。
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B=テストのループ回数
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この引数で指定した回数だけ繰り返されると、テストはパスしたことになります。
デフォルトは 1 回です。
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P=テストパターン
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テストパターン番号を指定します。デフォルトは r (ランダムパターン) です。
このほか、0 (0x0000000)、3 (0x3333333)、5 (0x5555555)、または 9 (0x9999999) も指定できます。
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注 - 同じテストをループさせる場合には、詳細モードは無効になります。複数のパラメタはコンマで区切って指定します。(例: gfbtest
-o dev=gfb1,S=0x9,B=2)
注 - 64 ビットのテストは、sparcv9 サブディレクトリに格納されています (/opt/SUNWvts/bin/sparcv9/テスト名)。このディレクトリにテストが存在しない場合は、そのテストは、32 ビットのテストとしてだけ実行することができます。詳細は、「32 ビットテストと 64 ビットテスト」を参照してください。
注 -
gfbtest が返すエラーは特定できません(障害が発生した構成要素を特定することはできません)。エラーが発生した場合は、GFB 全体が現場交換可能ユニット(FRU)となります。