enatest のオプション

Enclosure Services Functional Test 

(格納装置サービス対する機能テスト) (全般的な説明) 

SES デバイスを使用して、格納装置内のデバイスに対していくつか制御動作を行い、それらの動作が正しく行われたかどうかを確認します。この機能テストは、以下の順序で行われます。 

(a) 制御動作を行います。

(b) 制御動作が成功したかどうかを確認します。

(c) 元の状態に戻します。

(d) 正しく元の状態に戻ったかどうかを確認します。

上記の動作のいずれかが失敗した場合、テストは失敗します。 

このテストは、格納装置内のディスクとファンを対象にしています。 

Enclosure Services Functional Test 

(格納装置サービスに対する機能テスト) (ディスクテストの詳細) 

(a) Control Operation (制御動作): ディスクの各ポートを元の状態から切り替えます。すなわち、元々接続されていたポートをバイパスし、バイパスされていたポートを接続します。

(b) Verify Control Operation (制御動作の確認): これは、2 つの方法で行われます。最初に、SES デバイスを使用して状態を読み取ることによって、ディスクポートの新しい状態を確認します。状態の変更が反映されていない場合、テストは失敗します。次に、元々接続されていて、現在はバイパスされているポートを使用してディスクアクセスを試みます。この試みが成功した場合、テストは失敗します。

(c) Restore State (状態の復元): ポートを制御動作の前の状態に戻します。

(d) Verify Restore Operation (復元の確認): これは、2 つの方法で行われます。最初に、SES デバイスを使用して状態を読み取ることによって、ディスクポートの新しい状態を確認します。状態の変更が反映されていない場合、テストは失敗になります。次に再接続されたポートを使用してディスクアクセスを試みます。この試みが失敗した場合、テストは失敗します。

Enclosure Services Functional Test (格納装置サービスに対する機能テスト) (ファンテストの詳細) 

(a) Control Operation (制御動作): 各ファンの速度を切り替えます。切り替えられる速度は、HIGH または LOW です。

(b) Verify Control Operation (制御動作の確認): SES デバイスを使用して状態を読み取り、速度を比較します。この場合、速度の切り替えに失敗しても、ファン速度を変更できなかったことを示す情報メッセージが表示されるだけで、テストが失敗することはありません。これは、周囲温度によってファン速度の変更が必要であったとしても、SES が変更要求を無視できるためです。

(c) Restore State (状態の復元): ファンを元の速度に戻します。

(d)Verify Restore Operation (復元の確認): これは、上記の Verify Control Operation (制御動作の確認) に似た処理です。