/opt/SUNWvts/bin/sunlink 標準引数 -o dev=デバイス名,P=ポート番号, p=データパターン,I,C=B/E
表 37-2 sunlink のコマンド行構文
引数 |
説明 |
---|---|
dev=デバイス名 |
テストするデバイスを指定します。 hih0 HDLC および SDLC プロトコル |
P=ポート番号 |
テストするポート番号を指定します。 |
p=データパターン |
以下のいずれかのデータパターンを指定します。 c: 文字 (0x55) i: 増分 d: 減分 r: ランダム (デフォルト) |
I |
HSI/S (外部) に対して内部ループバックを有効にします。 |
C=クロックソース |
クロックソースとして以下のいずれかを指定します。 B: オンボードクロックソース E: 外部クロックソース |
HSI/S SBus カードをテストするための一般的なコマンド行構文を以下に示します。:
# /opt/SUNWvts/bin/sunlink -o dev=hih0,P=0_to_1+2_to_3
この構文をコマンド行に入力すると、ポート 0 の内部ループバックがテストされます。
64 ビットのテストは、sparcv9 サブディレクトリに格納されています (/opt/SUNWvts/bin/sparcv9/テスト名)。このディレクトリにテストが存在しない場合、そのテストは、32 ビットのテストとしてだけ実行することができます。詳細は、「32 ビットテストと 64 ビットテスト」を参照してください。