test

SunVTS 3.0 テストリファレンスマニュアル

sunlink のコマンド行構文

/opt/SUNWvts/bin/sunlink 標準引数 -o dev=デバイス名,P=ポート番号, p=データパターン,I,C=B/E

表 37-2 sunlink のコマンド行構文

引数 

説明 

dev=デバイス名

テストするデバイスを指定します。 

hih0 HDLC および SDLC プロトコル

P=ポート番号

テストするポート番号を指定します。 

p=データパターン

以下のいずれかのデータパターンを指定します。 

c: 文字 (0x55)

i: 増分

d: 減分

r: ランダム (デフォルト)

I

HSI/S (外部) に対して内部ループバックを有効にします。 

C=クロックソース

クロックソースとして以下のいずれかを指定します。 

B: オンボードクロックソース

E: 外部クロックソース

HSI/S SBus カードをテストするための一般的なコマンド行構文を以下に示します。: 

# /opt/SUNWvts/bin/sunlink -o dev=hih0,P=0_to_1+2_to_3

この構文をコマンド行に入力すると、ポート 0 の内部ループバックがテストされます。

注 -

64 ビットのテストは、sparcv9 サブディレクトリに格納されています (/opt/SUNWvts/bin/sparcv9/テスト名)。このディレクトリにテストが存在しない場合、そのテストは、32 ビットのテストとしてだけ実行することができます。詳細は、「32 ビットテストと 64 ビットテスト」を参照してください。