/opt/SUNWvts/bin/ffbtest 標準引数 -o dev=デバイス名, S=サブテスト番号, F=サブテストループ,B=テストループ回数,P=テストパターン
表 16-3 ffbtest のコマンド行構文
引数 |
説明 |
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dev=デバイス名 |
テストするデバイスの相対パス名 (/dev/fbs を指し示す) を指定します。デフォルトは ffb0 です。 |
S=サブテスト番号 |
実行するサブテストのテスト番号を指定します。以下のサブテストから選択します。サブテスト番号を加算すると、複数のサブテストを実行することができます。たとえば、n=0x3 はテスト 1 とテスト 2 の両方を実行し、n=0x180 は、テスト 0x080 とテスト 0x0100 の両方を実行します。先行ゼロを付ける必要はありません。 n - 0x00001 3DRAM n - 0x00002 3DRAM ロジック n - 0x00004 RAMDAC n - 0x00008 描画パイプライン n - 0x00010 高速充填・垂直スクロール n - 0x00020 ピクセルプロセッサ n - 0x00040 ピッキング n - 0x00080 調停 n - 0x00100 立体 サブテスト番号の論理和をとると、複数のテストを選択することができます。たとえば、n = 0x00009 は、3DRAM テストと描画パイプラインテストを選択します。16 進数の前には 0x を付ける必要がありますが、10 進数で指定することもできます。 |
F=サブテストループ回数 |
各サブテストを繰り返す回数を指定します。デフォルトは 1 です。 |
B=テストループ回数 |
合格に必要なテストループの繰り返し回数を指定します。デフォルトは 1 です。 |
P=テストパターン |
テストパターン番号を指定します。デフォルトは、ランダムパターンを意味する r です。 0 (0x0000000)、3 (0x3333333)、5 (0x5555555)、9 (0x9999999) を選択することができます。 |
64 ビットのテストは、sparcv9 サブディレクトリに格納されています (/opt/SUNWvts/bin/sparcv9/テスト名)。このディレクトリにテストが存在しない場合、そのテストは、32 ビットのテストとしてだけ実行することができます。詳細は、「32 ビットテストと 64 ビットテスト」を参照してください。