/opt/SUNWvts/bin/tcxtest 標準引数 -o dev=デバイス名, lock=E(有効)/D(無効), X=ビットモード,T=テスト,S=[dfb8, dfb24, dfb32]
表 43-2 tcxtest のコマンド行構文
引数 |
説明 |
---|---|
dev=デバイス名 |
テストするデバイスのファイル名を指定します。例: dev=tcx0 |
lock=E(nable)/D(isable) |
ウィンドウシステムのロックオプションを有効または無効にします。詳細は、『SunVTS 3.3 ユーザーマニュアル』の「フレームバッファーのテスト」の節を参照してください。デバイスがウィンドウシステムのディスプレイの場合は、使用しないでください。 |
X=ビットモード |
データ転送サイズを指定します。有効な値は以下のとおりです。 8 バイト 16 ショート 32 ロング 64 ダブルワード |
T=テスト |
特定のテストを指定します。以下の値を使用して、テストを個別に指定します。: a = Address c = Constant r = Random b = Blit s = Stipple h = Cursor w = WRC 注 - Blit テストまたは Stipple テストを選択すると、ユーザーモードと raw モード両方のテストが実行されます。 |
S=[dfb8, dfb24, dfb32] |
使用するフレームバッファーメモリーを指定します。 - dfb8 ダムフレームバッファーの 8 ビット空間。メモリーは複数バイトだけでアクセスされます。 - dfb24 ダムフレームバッファーの 24 ビット空間。メモリーは 24 ビットの読み取りと書き込みだけでアクセスされます。 - fb32 ダムフレームバッファーの 8 ビット空間。メモリーは 8 ビットの読み取りと書き込みでアクセスされます。 |
64 ビットのテストは、sparcv9 サブディレクトリに格納されています (/opt/SUNWvts/bin/sparcv9/テスト名)。このディレクトリにテストが存在しない場合、そのテストは、32 ビットのテストとしてだけ実行することができます。詳細は、「32 ビットテストと 64 ビットテスト」を参照してください。