「ボックス・プロット」を使用したデータの絞込み

1つの属性値についてプロットを使用し、メトリック値の1つまたは複数の四分位で絞り込むことができます。

1. メトリック値の1つの四分位を使用して絞り込むには、その四分位をダブルクリックします。
   Big Data Discoveryによって、次の2つの絞込みが「選択した絞込み」パネルに追加されます。

   • 1つの絞込みはX軸属性値に対するものです。
   • もう1つの絞込みは、選択した四分位が表すメトリック値の範囲に対するものです。
2. 複数の四分位の値を使用して絞り込むには、次の手順を実行します。
   1. 複数の四分位を選択するには、四分位をマウスでクリックしてから、必要な四分位が強調表示されるまでドラッグします。
   2. 選択した領域をダブルクリックします。
   Big Data Discoveryによって、次の2つの絞込みが「選択した絞込み」パネルに追加されます。

   • 1つの絞込みはX軸属性値に対するものです。
   • もう1つの絞込みは、選択した複数の四分位が表すメトリック値の範囲に対するものです。