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WRC
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複数回の書き込みと読み取りを行った後に結果を照合し、S24 チップに内蔵されている FIFO を検査します。このテストは、test_afx_alt_wr、test_memafx、test_afx_random の 3 種類のサブテストから構成されます。これらのテストが失敗した場合は、予測データと結果を示すエラーメッセージが表示されます。
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Test_afx_alt_wr
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WR (ページ 1)、WR (ページ 2)、WR (ページ 1 + オフ)、WR
(ページ 2 + オフ) などの二者択一のページへの書き込みを 16 回行った後に、データを読み戻して、予測データと比較します。また、フレームバッファー空間に 16 回書き込みを行った後に、フレームバッファー空間の別のページに 1 回書き込みを行います。その後でデータを読み戻して、予測データと照合します。
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Test_memafx
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SWIFT チップの CPU は、DRAM および AFX バスとの密結合インタフェースを持っています。このテストは、2 つのアクセス間の調停を検査します。
このテストは、AFX と CPU メモリーに何度も交互書き込みを行います。さまざまな位置に書き込んだ後、データを読み取って照合します。ページ境界にまたがってアクセスすることによって、キャッシュされたアクセスとキャッシュされないアクセスの両方をテストすることができます。
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Test_afx_random
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1 ページを DRAM メモリーに書き込んだ後に、AFX 空間のランダムな位置にランダムな書き込みと読み取りを数回行います。次に、DRAM 空間の別のページに書き込みを行い、ランダムなアクセスを行います。
このテストは、ランダムなアクセスによってタイムアウトが発生したかどうかを検査するだけで、データ照合は行いません。
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Constant
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メモリー全体にデータパターンを書き込みます。このパターンを読み戻して予測データと比較します。メモリーへの書き込み操作を完了すると、メモリーを読み直し、読み取った値が正しいことを確認します。
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Address
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メモリー全体にアドレスの値と同じデータパターンを書き込みます。このパターンを読み戻して正しい値であることを確認します。
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Random
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メモリー全体にランダムなデータパターンを書き込みます。このパターンを読み戻して予測データと比較します。メモリーへの書き込み操作を完了すると、メモリーを読み直し、読み取った値が正しいことを確認します。
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Blit
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ユーザー blit テストは、画面の左上隅に 64 × 64 × 24 ピクセルのイメージを描画します。その後、イメージを画面に blit します。宛先イメージを読み戻して元のイメージと比較し、ユーザー blit 操作が正しく行われたどうかを確認します。ユーザー blit テストは、blit コマンドにユーザーデータ空間を使用すること以外は、raw
blit テストと同じです。
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Stip
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多くの点描操作を行います。点描操作を使用して様々なデータ値を宛先に書き込んだ後に、宛先データを読み戻して照合します。高速 SBus ビデオ (FSV) の場合には、以下が検査されます。
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ピクセルマスク全体を通した 1 の移動
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ROP ビット全体を通した 1 の移動
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宛先バイト全体を通した 1 の移動
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IDX バイト全体を通した 1 の移動
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Cursor (SPARCstation 4 には適用されません)
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データレジスタ回帰を行います。カーソルレジスタに、移動するデータ 1 パターンを書き込みます。その後、データを読み戻して期待される結果と照合します。テストは、移動するデータ 0 パターンを使用して繰り返されます。
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Colormap
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カラーマップのすべての場所に、異なる RGB 値を書き込みます。
注 - テストするシステムのモニターが白黒またはグレースケールの場合は、色の問題を視覚的に検出することはできません。
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