SunVTS 4.6 テストリファレンスマニュアル

ifbtest のコマンド行構文

/opt/SUNWvts/bin/ifbtest 標準引数 -o dev=デバイス名, fbmem=E(nable)|D(isable),texmem=E|D,dlmem=E|D,geomeng=E|D, rasterization=E|D,pixelproc=E|D,subtest_repeat=回数, test_repeat=回数

表 31-3 ifbtest のコマンド行構文

引数 

説明 

dev=デバイス名

デバイス名は、テスト対象のデバイスを /dev/fbs を基準とした相対パス名で指定します。デフォルトはありません。

fbmem=E|D

フレームバッファーメモリーのテストを有効または無効にします。 

texmem=E|D

テクスチャーメモリーのテストを有効または無効にします。 

dlmem=E|D

表示一覧メモリーのテストを有効または無効にします。 

geomeng=E|D

ジオメトリエンジンのテストを有効または無効にします。 

rasterization=E|D

ラスター化方式のテストを有効または無効にします。 

pixelproc=E|D

ピクセル処理のテストを有効または無効にします。 

subtest_repeat=回数

各サブテストの繰返し回数を定義します。デフォルトは 1 です。 

test_repeat=回数

転送前にテストループを繰り返す回数を定義します。デフォルトは 1 です。 


注 -

64 ビットのテストは、sparcv9 サブディレクトリに格納されています (/opt/SUNWvts/bin/sparcv9/ テスト名)。このディレクトリにテストが存在しない場合は、32 ビットのテストとしてだけ実行することができます。詳細は、「32 ビットテストと 64 ビットテスト」を参照してください。