/opt/SUNWvts/bin/m64test 標準引数 -o dev=デバイス名, S=サブテスト番号,F=サブテストのループ回数,B=テストのループ回数,L=disable,P=テストパターン
表 21-3 m64test のコマンド行構文
引数 |
説明 |
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dev=デバイス名 |
テストするデバイスの相対パス名 (/dev/fbs を指し示す) を指定します。デフォルトは m640 です。 |
S=サブテスト番号 |
実行するサブテストのテスト番号を指定します。以下から選択してください。サブテスト番号を加算することによって、複数のサブテストを実行することができます。たとえば、n=0x00003 では、テスト 00001 とテスト 00002 の両方が実行されます。 n=0x00005 では、テスト 0x00001 と 0x000004 の両方が実行されます。先行ゼロは必要ありません。 n - 0x00001 VRAM n - 0x00002 RAMDAC n - 0x00004 アクセラレータポートテスト (描画パイプライン) サブテスト番号の論理和をとることによって、複数のテストを選択することができます。 たとえば、n = 0x00005 は、VRAM テストと描画パイプラインテストを意味します。 16 進数の前には 0x を付ける必要があります。10 進数で指定することもできます。 |
F=サブテストのループ回数 |
各サブテストを繰り返す回数を指定します。デフォルトは 1 回です。 |
B=テストのループ回数 |
テストループを繰り返す回数を指定します。この回数繰り返されると、テストはパスしたことになります。デフォルトは 1 回です。 |
L=disable |
フレームバッファーロックを無効にします。M64 がコンソールでない場合、あるいはサーバーがテスト中の M64 上で動作していない場合は、ロックを無効にしてください。 |
P=テストパターン |
テストパターン番号を指定します。デフォルトは、ランダムパターンを示す r です。0 (0x0000000)、3 (0x3333333)、 5 (0x5555555)、9 (0x9999999) を指定することもできます。 |
64 ビットのテストは、sparcv9 サブディレクトリに格納されています (/opt/SUNWvts/bin/sparcv9/テスト名)。このディレクトリにテストが存在しない場合、そのテストは、32 ビットのテストとしてだけ実行することができます。詳細は、「32 ビットテストと 64 ビットテスト」を参照してください。