enctest は、 Sun StorEdge 1000 格納装置を検査します。この格納装置には、1 インチの 4GB ドライブ 12 台または 1.6 インチの 9GB ドライブ 8 台を収納することができ、冗長電源および冗長冷却に対応しています。以下の 2 つのモデルがあります。
Sun StorEdge A1000 - ハードウェア RAID コントローラ付きディスクトレイ
Sun StorEdge D1000 - ハードウェア RAID コントローラなしディスクトレイ
enctest は、両方のモデルの一般的な検査、構成の検査、修理後の検査、障害の切り分けに使用することができます。
enctest は、接続されている Sun StorEdge 格納装置をすべて検出し、格納装置内の各種デバイスの状態を表示します。
enctest は、Sun StorEdge D1000 の LED を以下のように設定します。
表 12-1 enctest の状態 LED
LED の状態 |
説明 |
---|---|
点灯 |
回復不能または重大なエラーが発生しました。 |
点滅 |
重大なエラーではありません。 |
消灯 |
正常に動作しています。 |
Sun StorEdge 格納装置が接続されたシステムには、ses ドライバが必要です。ses ドライバが存在しない場合、SunVTS は Sun StorEdge ハードウェアを認識しません。ses ドライバが存在するかどうかを確認するには、以下のコマンドを使用します。 pkginfo SUNWsesこのパッケージが存在しない場合は、インストールしてください。
enctest は、格納装置内の各種デバイスの状態を報告します。回復不能または重大なエラーを検出した場合は記録されます。重大ではないエラーは、警告メッセージで報告されます。表 12-2 に、格納装置の各デバイスに関して報告される情報を示します。
表 12-2 enctest によって報告されるの格納装置の状態
格納装置の部品 |
報告される情報 (デバイススロットごと) |
---|---|
Disk (ディスク) |
Present/Not Present Failed/OK |
Power supply (電源装置) |
Present/Not Present Failed/OK |
Fan (ファン) |
Present/Not Present Failed/OK |
Temperature (温度センサー) |
OK/Over temperature |
RPA cache Battery (RPA キャッシュバッテリー) (Sun StorEdge A1000 のみ) |
OK/Low Charge |
オプション |
説明 |
---|---|
Display Enclosure Status (格納装置の状態の表示) |
有効 (enable) な場合は、メッセージの形式で格納装置内の各デバイスの状態が SunVTS コンソールに表示されます。これらのメッセージは、SunVTS 情報ログファイルにも記録されます。 |
LED Test (LED テスト) |
有効 (enable) な場合は、各ディスクに対応する LED が一瞬点灯します。 |
Interval Between Passes (テスト間隔) |
テストを繰り返す場合、次のパスまでの最小間隔を指定します。 |
テストモード |
接続モード |
---|---|
接続テストモード |
格納装置の状態のサマリービットを読み取ります。回復不能または重大なエラーを検出した場合にのみ、詳細情報を報告します。 |
機能テストモード (オフライン) |
すべてのテストオプションを使用できます。 |
機能テストモード(オンライン) |
デフォルトで、LED テストが使用不能に、また Display Enclosure Status オプションが無効に設定されています。 |
/opt/SUNWvts/bin/enctest 標準引数 -o dev=デバイス名, disp=enable|disable,led=enable|disable,delay=テスト間隔
表 12-5 enctest のコマンド行構文
引数 |
説明 |
---|---|
dev=デバイス名 |
格納装置内の ses デバイス名を指定します。 |
disp=enable|disable |
enable に設定すると、格納装置内のデバイスの詳細な状態情報を表示されます。 |
led=enable|disable |
LED テストを有効または無効にします。 |
delay=テストパス間隔 |
テストを繰り返す場合、次のパスまでの最小間隔を指定します。 |
64 ビットのテストは、sparcv9 サブディレクトリに格納されています (/opt/SUNWvts/bin/sparcv9/テスト名)。このディレクトリにテストが存在しない場合、そのテストは、32 ビットのテストとしてだけ実行することができます。詳細は、「32 ビットテストと 64 ビットテスト」を参照してください。
表 12-6 に、enctest のエラーメッセージと考えられる原因、推奨する対処方法を示します。
表 12-6 enctest のエラーメッセージ
|
エラーメッセージ |
考えられる原因 |
対処方法 |
---|---|---|---|
8000 |
Failed to open device. |
システムのエラー ケーブルが正しく接続されていないか、デバイスが設定されていません。 |
ケーブルが正しく接続され、デバイスの設定が終えているか確認してください。購入先に問い合わせてください。 |
8001 |
Failed to communicate with the enclosure |
システムのエラー ケーブルが正しく接続されていないか、デバイスが設定されていません。 |
ケーブルが正しく接続され、デバイスの設定が終えているか確認してください。購入先に問い合わせてください。 |
8002 |
Cannot proceed further due to lack of memory |
システムに多大な負荷がかかっています。 |
テストをやり直してください。 |
8003 |
unrecoverable|critical|non-critical informational condition detected in the enclosure |
|
|
8004 |
Failed to obtain list of enclosure elements |
システムのエラー |
購入先に問い合わせてください。 |
8005 |
Failed to obtain status of an enclosure element |
システムのエラー |
購入先に問い合わせてください。 |
8006 |
Failed to set the status of an enclosure element |
システムのエラー |
購入先に問い合わせてください。 |