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부록 A

Hardware Diagnostic Suite 테스트 참조



이 부록에서는 다음과 같은 Hardware Diagnostic Suite 테스트에 대해 설명하고 모든 테스트 요구 사항을 나열합니다.

CDROM 테스트

CDROM 테스트는 CD-ROM 드라이브를 검사합니다.

각 트랙은 다음과 같이 분류됩니다.

디스크 테스트

디스크 테스트는 하드 드라이브의 기능을 검사합니다.

표 A-2   디스크 테스트 설명 및 요구 사항
테스트 모드
 설명
 요구 사항

빠른 검사  

드라이브를 열어 드라이브 구성을 확인하고, 몇 개의 블럭만 읽은 다음 드라이브를 닫습니다. 모든 UNIX 드라이브 오류 메시지를 모니터링하고 표시합니다. 하드 드라이브 데이터는 기록되지 않으며 파일 시스템 테스트도 수행되지 않습니다.  

없음  

전체 테스트  

드라이브를 열고, 드라이브 구성을 확인한 후, 드라이브에서 읽기 전용 테스트를 수행하고, 랜덤 찾기 검사를 수행합니다.

파일 시스템 테스트는 실행되지 않습니다. 테스트가 완료되면 테스트는 드라이브를 닫습니다. 모든 UNIX 하드 드라이브 오류 메시지를 모니터링하고 표시합니다.  

없음  

플로피 테스트

플로피 테스트는 디스켓 드라이브를 검사합니다.

표 A-3   플로피 테스트 설명 및 요구 사항
테스트 모드
 설명
 요구 사항

빠른 검사  

디스켓 드라이브를 엽니다. 모든 UNIX 드라이브 오류 메시지가 모니터링되고 표시됩니다. 데이터는 기록되지 않고 파일 시스템 테스트도 수행되지 않습니다.  

드라이브에 UNIX 포맷된 디스켓을 로드합니다.  

전체 테스트  

디스켓 드라이브를 열어 구성을 확인한 후 디스켓에서 읽기 전용 테스트를 수행합니다. 파일 시스템 테스트는 실행되지 않습니다. 테스트가 완료되면 테스트는 디스켓 드라이브를 닫습니다. 모든 UNIX 디스켓 오류 메시지가 모니터링되어 표시됩니다.  

드라이브에 UNIX 포맷된 디스켓을 로드합니다.  

메모리 테스트

메모리 테스트는 시스템의 물리적 메모리를 검사합니다. 테스트는 패리티 오류, 하드 및 소프트 오류 수정 코드(ECC) 오류, 메모리 읽기 오류를 찾고 문제를 수정합니다. 의사 드라이버 mem(7)은 물리적 메모리를 읽는 데 사용됩니다.

테스트는 사용 가능한 모든 물리적 메모리를 읽지만 물리적 메모리 위치에 쓰지는 않습니다.

표 A-4   메모리 테스트 설명 및 요구 사항
테스트 모드
 설명
 요구 사항

빠른 검사  

메모리의 1%만 읽습니다. 이 테스트는 사용 가능한 물리적 메모리의 양도 표시합니다. ECC 메모리 오류 처리를 사용하는 시스템의 경우, 테스트는 시스템이 마지막으로 호출된 다음에 발생한 ECC 오류를 보고합니다. 테스트는 특정 CPU, 메모리 보드 또는 SIMM에 대한 ECC 오류를 보고합니다.  

없음  

전체 테스트  

더 많은 메모리를 읽는다는 것을 제외하고는 빠른 검사 모드와 동일한 테스트를 수행합니다.  

없음  

네트워크 테스트

네트워크 테스트는 시스템 CPU 기판 및 각 네트워킹 제어기(예를 들면, 보조 SBus 이더넷 제어기)의 모든 네트워킹 하드웨어를 검사합니다. 이러한 네트워크 장치는 다음과 같습니다.

테스트를 보다 의미있게 수행하려면 테스트 중인 컴퓨터를 네트워크에서 적어도 하나의 다른 시스템이 있는 네트워크에 연결해야 합니다. 이 테스트는 주로 ICMP (Internet Control Message Protocol)를 사용하므로 한 네트워크에 최소 두 대의 컴퓨터를 연결해야 합니다. 한 대는 테스트를 수행하고 다른 한 대는 테스트 대상용으로 필요합니다. 컴퓨터 두 대 모두 TCP/IP (Transport Control Protocol/Internet Protocol)를 지원해야 합니다. 대상 컴퓨터는 ICMP 브로드캐스트나 RPC 브로드캐스트에 응답하도록 구성해야 합니다.

먼저 네트워크 테스트는 테스트할 대상 컴퓨터를 결정합니다. ICMP 브로드캐스트를 보내 대상 컴퓨터를 찾습니다. 필요한 대상을 찾지 못하면 RPC 포트 매퍼 데몬에 대해 RPC 브로드캐스트를 시도합니다. 대상을 찾으면 이 테스트는 임의 데이터 길이 및 데이터가 있는 256 패킷을 보내는 렌덤 테스트를 수행합니다.

수신 시간 초과는 120초로 설정되어 있고 오류에 플래그가 지정되기 전 재시도 횟수는 3번으로 설정되어 있습니다.

표 A-5   네트워크 테스트 설명 및 요구 사항
테스트 모드
 설명
 요구 사항

빠른 검사  

장치가 연결되어 있는지 여부를 확인합니다. 특정 장치 이름에 대한 모든 네트워크 인터페이스를 검색합니다. 네트워크 테스트가 연결된 장치를 찾지 못하면 테스트를 수행하지 못하고, 장치를 찾으면 테스트가 통과됩니다.  

시스템은 테스트된 네트워크 인터페이스를 통한 네트워크 통신으로 연결되고 구성되어야 합니다.  

전체 테스트  

테스트의 일반 설명에서 설명한 대로 수행합니다.  

시스템은 테스트된 네트워크 인터페이스를 통한 네트워크 통신으로 연결되고 구성되어야 합니다.  

병렬 포트 테스트

병렬 테스트는 IEEE 1248 센트로닉스 호환 가능 병렬 포트(ECP 모드 가능)의 기능을 검사합니다.

병렬 테스트가 성공적으로 완료되면 DMA 회로와 장치 드라이버가 적절하게 기능하고 있다는 뜻입니다.

표 A-6   병렬 테스트 설명 및 요구 사항
테스트 모드
 설명
 요구 사항

빠른 검사  

양방향 병렬 포트가 시스템에 구성되어 있는지 확인합니다. 이 모드에서 테스트가 성공적으로 완료되면 시스템에 양방향 병렬 포트 하드웨어 및 소프트웨어 드라이버가 설치되어 있다는 뜻입니다.  

없음  

전체 테스트  

장치의 내부 루프백 테스트를 수행하고

내부 fifo 루프백 테스트 ioctl을 사용하여 장치의 기능을 검사합니다.

사용된 알고리즘:

  • TFIFO 모드 설정
  • fifo 내용에서 pio 쓰기/읽기/비교하기
  • fifo에 dma 쓰기 및 pio 읽기/비교하기
    •  

    없음  

    프로세서 테스트

    프로세서 테스트는 SPARCTM 기반 구조가 있는 컴퓨터의 부동 소수점을 검사합니다. 레지스터, 정수 변환에 대한 단일 정밀도 부동 소수점 및 이중 정밀도 부동 소수점, 더하기, 빼기, 곱하기, 나누기, 잠금 확인, 타이밍 및 분기와 비분기 조건 지침을 검사하는 일련의 테스트를 수행합니다.

    표 A-7   프로세서 테스트 설명 및 요구 사항
    테스트 모드
    		 설명
    		 요구 사항

    빠른 검사  

    CPU의 특성을 검사합니다.  

    없음  

    전체 테스트  

    부동 소수점 장치의 기능을 실행합니다.  

    없음  

    직렬 포트 테스트

    직렬 테스트는 내장 직렬 포트(zs[0,1], zsh[0,1], se[0,1], se_hdlc[0,1])를 검사합니다.

    비동기 테스트 및 동기 테스트는 전체 테스트 모드에서 실행됩니다. 비동기 테스트 및 동기 테스트에 대한 설명은 아래와 같습니다.

    Sun StorEdge A5x00 엔클로저 테스트

    Sun StorEdge A5x00 엔클로저 테스트는 Sun StorEdgeTM A5x00 하위 시스템의 기능을 확인하는 데 사용됩니다.

    Sun StorEdge A5x00 엔클로저 테스트는 호스트에 연결된 모든 Sun StorEdge A5x00 엔클로저를 검색하고 관련 구성 정보를 수집합니다.

    표 A-9   Sun StorEdge A5x00 엔클로저 테스트 설명 및 요구 사항
    테스트 모드
    		 설명
    		 요구 사항

    빠른 검사  

    엔클로저의 호스트 연결 및 상태를 검사합니다. 연결이 해제되거나 위험 엔클로저 상태가 검색되면 테스트를 수행할 수 없습니다.  

    없음  

    전체 테스트  

    호스트 및 엔클로저 간에 모든 활성 및 비활성 연결을 검색하고 기존 활성 연결 개수를 보고합니다. 테스트는 모든 비활성 연결을 진단하고 오류를 일으킨 원인을 보고합니다.

    엔클로저의 SES (SCSI Enclosure Services) 장치를 쿼리하여 엔클로저의 상태를 얻을 수 있습니다. 엔클로저 내 요소 상태에 관련된 자세한 정보가 보고됩니다. 엔클로저에서 위험 상태가 감지되면 테스트를 수행할 수 없습니다.  

    없음  

    Sun StorEdge A/D 1000 엔클로저 테스트

    Sun StorEdge A/D 1000 엔클로저 테스트는 Sun StorEdge 1000 기능을 검사하는 데 사용됩니다.

    A/D 1000 엔클로저 테스트는 연결된 모든 Sun StorEdge 엔클로저를 감지하여 엔클로저 내에 있는 다양한 요소의 상태를 표시합니다.

    표 A-10   Sun StorEdge A/D 1000 엔클로저 테스트 설명 및 요구 사항
    테스트 모드
    		 설명
    		 요구 사항

    빠른 검사  

    엔클로저 상태 요약 비트를 읽습니다. 복구할 수 없는 상태나 위험 상태가 감지되면 이에 대한 자세한 정보가 보고됩니다.  

    없음  

    전체 테스트  

    엔클로저 내에 있는 다음과 같은 요소의 상태를 검사하고 보고합니다.

  • 디스크
  • 전원 공급 장치
  • 팬
  • 온도
  • RPA 캐시 배터리(StorEdge A1000 전용)

    • 복구할 수 없는 상태나 위험 상태가 감지되면 이에 대한 오류가 등록되며 위험하지 않은 상태는 경고 메시지를 통해 보고됩니다.  

    없음  

    SPARCstorage 배열 제어기 테스트

    SPARCstorageTM 배열 제어기 테스트는 SPARCstorage 배열상의 제어기 보드의 기능을 검사합니다. SPARCstorage 배열 제어기 테스트가 디스크 드라이브의 오류를 SSA 제어기 보드의 오류와 구분합니다.

    표 A-11   SPARCstorage 배열 제어기 테스트 설명 및 요구 사항
    테스트 모드
    		 설명
    		 요구 사항

    빠른 검사  

    SPARCstorage 배열의 배터리 모듈 및 팬 모듈의 상태를 검사합니다.  

    없음  

    전체 테스트  

    NVRAM에 대한 다양한 크기의 SCSI 읽기 버퍼 명령을 호출하여 하드웨어와 소프트웨어를 검사합니다. 이 작업은 SCSI 장치를 제외한 호스트 광 채널 하드웨어, 배열 광 채널 하드웨어, 배열 상주 관리 소프트웨어 및 배열 제어기 카드의 하드웨어 구성 요소 상호 작용 등의 모든 구성 요소를 검사합니다.

    주 - 하드 드라이브를 테스트하려면 디스크 테스트를 사용합니다. 이 테스트에서도 SPARCstorage 배열상의 팬 모듈 및 NVRAM 배터리 모듈의 오류가 보고됩니다.  

    없음  

    테이프 테스트

    테이프 테스트는 다양한 테이프 드라이브의 종류 및 그 작동을 확인합니다. 4mm, 8mm, DLT, 1/4인치 카트리지 및 1/2인치 전면 로드 테이프 드라이브를 지원합니다.

    표 A-12   테이프 테스트 설명 및 요구 사항
    테스트 모드
    		 설명
    		 요구 사항

    빠른 검사  

    드라이브를 열 수 있는지 여부와 드라이브 유형 확인 가능 여부를 검사합니다. 두 검사 모두 성공적이거나 드라이브가 현재 사용 중이면 테스트는 통과됩니다. 드라이브를 사용 중이라는 것 이외의 다른 이유로 열기 작업을 성공적으로 수행하지 못했을 경우 테이프 테스트를 수행할 수 없습니다.  

    없음  

    전체 테스트  

    드라이브를 열 수 있는지 여부와 드라이브 유형 확인 가능 여부를 검사합니다. 두 검사 모두 성공적이거나 드라이브가 현재 사용 중이면 테스트는 통과됩니다. 드라이브를 사용 중이라는 것 이외의 다른 이유로 열기 작업을 성공적으로 수행하지 못했을 경우 테이프 테스트를 수행할 수 없습니다.  

    없음  



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